En raison de vitesses de commutation plus élevées, de faible résistance à l'état passant et de taille miniaturisée en comparaison avec des contreparties en silicium, l'utilisation de transistors de puissance à base de nitrure de gallium (GaN) est de plus en plus courante dans les circuits de puissances modernes. Avec des figures de mérite supérieures, les convertisseurs de puissance utilisant des dispositifs GaN peuvent fonctionner à des fréquences de commutation élevées. Cela se traduit par des dimensions plus petites, une efficacité supérieure et une réduction du coût du système. La redondance et la reconfigurabilité sont souhaitables dans les applications critiques pour la sécurité telles que les systèmes automobiles et aérospatiaux. Ces derniers fonctionnent dans des conditions difficiles nécessitant un niveau élevé de flexibilité et une grande fiabilité. Ce mémoire présente un circuit de pilotage de grille pour un tel système d'alimentation reconfigurable. Destiné à être au coeur d'un système d'alimentation haute tension (HT) programmable et flexible, le pilote de grille présenté dans ce travail est capable de commander une large gamme de dispositifs GaN de différentes tailles. Cela est accompli en ayant un mécanisme configurable de vitesse de mis-à-on et mis-à-off. Cette fonctionnalité élimine le besoin de résistances de grille discrètes. Elle permet donc des conceptions de circuits plus denses, telles que l'intégration de système dans un boîtier (SiP-system-in-package). Dans un tel système les pilotes de grille, les dispositifs GaN et d'autres circuits intégrés de commande sont placés sur le même interposeur. La vitesse configurable de mis-à-on et de mis-à-off reconfigurable permet également de réduire les interférences électromagnétiques (EMI). Cela est important dans les applications critiques pour la sécurité. Une structure uniforme d'unités de commutation en demi-pont est proposée. Cette dernière permet une reconfigurabilité du fonctionnement du système avec une variété de topologies possibles à l'aide d'un grand nombre de cellules de commutation. Le pilote de grille exige un circuit de décalage de niveau de 200 V intégré. Ce circuit utilise une technique d'annulation de bruit en mode commun, ayant fait l'objet d'une étude approfondie. En utilisant cette technique dans une technologie HT SOI (silicium sur isolant), une immunité à une variation de bruit (CMTI) de 80 V/ns est obtenue. Le pilote de grille a un temps mort configurable allant de 5 ns à 60 ns. Ce temps mort configurable minimise les pertes dues à la conduction par mécanisme de «diode de corps» des transistors GaN pendant la période de conduction en roue libre pour différents profils de charge. Toutes les configurations sont programmées à travers un registre à décalage. Le circuit de pilotage de grille a été fabriqué avec le procédé SOI de 200-V 0,18-μm (XFAB XT018). Les résultats expérimentaux montrent que la puce peut piloter les transistors GaN ciblés de la plus petite à la plus grande taille aux vitesses de mis-à-on et mis-à-off souhaitée...

A selective harmonic elimination pulse width modulation (SHEPWM) class-D amplifier (CDA) with a reconfigurable gate driver integrated circuit (IC) is proposed. The H-bridge CDA generates a three-level SHEPWM signal and cancels lower order harmonics of the switching voltage. To generate accurate pulses at the right switching angles, GaN devices are used and a reconfigurable gate driver IC is used to control the driving strength of the gate driver. The SHEPWM algorithm is implemented in an FPGA and can configure the output on-the-fly. The simulation results show that the SHEPWM CDA has a 0.48 % total harmonic distortion (THD) for a 10 kHz output with an estimated switching loss of 38 mW for a GaN power transistor. It also shows that the driving strength of the gate driver has very little effect on THD, therefore the driving strength can be optimized between overshoot voltage and switching loss without concern for THD.

This paper presents a novel and compact bandgap comparator (BGRCOMP) for under-voltage lockout (UVLO) and thermal shutdown (TSD) protection circuits. The proposed BGRCOMP is self-referenced and combines the advantages of both a high-accuracy bandgap reference and a comparator into one single circuit. A latch-controlled biasing technique is also presented, which reduces static power consumption of the proposed BGRCOMP. The proposed BGRCOMP is used for the design of compact and low power UVLO and TSD circuits. The post-layout simulation results using a 0.18 µm BCD-on-SOI technology prove the attractive performance of the UVLO and TSD with a static current (IQ) of 7.76 µA and 5.4 µA from a 5 V supply, respectively. The deviations of UVLO thresholds are less than 3 mV in the temperature range of -40~85 °C.

This paper presents a novel level-shifter circuit for high-frequency high-voltage (HV) gate-drives. The proposed level shifter (LS) is designed based on a capacitivecoupler/current mirror/ latch structure which helps to extend operation voltage of a floating supply into the negative range, achieves sub-ns and constant delay, and consumes very low power from the floating supply. Additionally, common-mode noise cancellers based on a cross-current mirror and transmission gates are also presented to enhance the dV/dt immunity of the LS against slewing of the floating ground. Implemented in 0.18 µm HV BCD-on-SOI (bipolar-CMOS-DMOS on silicon-on-isolator) process, the post-layout simulation of the proposed design shows a delay of 680 ps, 200 V/ns of dVSSF/dt slew rate immunity, It dissipates no static power and only 8.1 pJ/transition from the floating supply, improving FoM 1 and FoM 2 of the proposed LS by 3 times and 11.7 times compared to respective state-of-the-art works.