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On the basis of a theory presented earlier [l] diffraction phenomena in CdS crystals with acoustoelectrically generated lattice vibrations are analyzed. Evidence for the generation of a second harmonic is given. Wave vectors and amplitudes of first and second harmonics are calculated from measured changes of reflection curves. The increase of the integrated intensities in dependence on the vibration amplitudes is evaluated, and a model for the transition from dynainical t o kinematical diffraction behaviour is discussed.Auf der Grundlage einer kiirzlich veroffentlichten Theorie [l] werden Beugungsphanomene an CdS-Kristallen mit akustoelektrisch angeregten Gitterschwingungen analysiert. Das Auftreten einer zweiten Harmonischen wird nachgewiesen. Wellenvektoren und Amplituden der ersten und zweiten Harmonischen werden aus gemessenen Anderungen der Reflexionskurven berechnet. Die Zunahme der Integralintensitat in Abhzngigkeit von der Schwingungsamplitude wird ausgewertet und einModeIl fur den Ubergang vom dynamjachen zuin kinematischen Reflexionsvermogen diskutiert.

A dynamical X-ray diffraction theory for crystals with acoustic lattice vibrations is presented. The fundamental equations derived for the general case are specified to monochromatic vibrations of wavelengths shorter than the pendellosung distance taking into account higher harmonics. It is shown that each satellite reflection, caused b y these vibrations, can be treated as a usual dynamical two-beam case using a modified dielectric susceptibility x which depends on the amplitudes and phases of the vibrations.Eine dynamische Rontgenbeugungstheorie fur Kristalle mit akustischen Gitterschwingungen wird dargestellt. Die fur den allgemeinen Pall abgeleiteten Grundgleichungen werden fur monochromatische Schwingungen spezifiziert, deren Wellenlangen klein gegeniiber der Pendellosungslinge sind. Hohere Harmonische werden dabei berucksichtigt. Es wird gezeigt, darj sich jeder der von den Schwingungen erzeugten Satellitenreflexe als gewohnlicher Zweistrahlfall behandeln I&&, wenn man eine von den Amplituden und Phasen der Schwingungen abhangige dielektrische Suszeptibilitlit x verwendet.

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Two modifications of double crystal X‐ray topography are applied to detect microdefects in FZ silicon. With about 30 different crystals no contrasts from swirl defects are obtained. However, all the crystals contain defects not reported hitherto. Their dimensions are probably between (or below) 10 and 30 μm and their average density is 103 to 104 cm−3. According to preliminary TEM observations these are presumedly formed by precipitation colonies of an unknown phase. The size of the individual particles is ≦ 200 Å. X‐ray contrast seems to arise only if the defects are located not more than a pendellösung distance from entrance or exit surface. Earlier observations on X‐ray topographic contrast of swirls are discussed on the basis of these results.