In this paper the authors used non-destructive technological monitoring of defects insulation enameled wire with poliimid polymer. The paper is devoted to the statistical method for processing, comparison and analysis of results of measurements of parameters of insulation of enameled wire because of mathematical model of trend for application in active technological monitoring is developed; the recommendations for parameters of such monitoring are used. It is theoretically justified and the possibility of determination of dependence of the error on the velocity of movement of a wire for want of quantifying of defects in enameled insulation by non-destructive tests by high voltage. The dependence of average value of amount of defects for enameled wire with two-sheeted poliimid insulation in a range of nominal diameter 0.56 mm is experimentally determined. The technological monitoring purpose is to reduce the quantifying defects of enameled insulation. References 10, figures 5. Key words: enameled wire, poliimid insulation, defects of insulation, technological monitoring, tests by voltage.Представлены результаты неразрушающего технологического контроля количества дефектов в изоляции эмаль провода на основе полиимидного полимера. Рассмотрено применение статистического анализа результатов измерения показателей контроля с помощью математической модели тренда для использования результатов в активном технологическом контроле. Предложены рекомендации для практического использования параметров функции тренда для контроля гарантированного уровня бездефектности изоляции методами статистики предельных значений. Параметром тренда является скорость уменьшения (или увеличения) длины провода с заданной дефектностью в течение технологического цикла. Теоретически показана и подтверждена измерениями возможность количественной оценки тенденции изменения дефектности эмальизоляции для провода ПЭЭИДХ2 -200 с двухслойной полиимидной изоляцией номинальным диаметром 0,56 мм в течение технологического цикла. Определение количественной оценки тенденции изменения дефектности эмаль изоляции позволяет также выделить и количественно оценить случайную ошибку технологического процесса -суммарную ошибку результатов технологического контроля, которая является количественной характеристикой случайной составляющей стабильности технологического процесса и обусловлена большим количеством причин, каждой из которых можно пренебречь по сравнению с суммой. Библ. 10, рис. 5. Ключевые слова: эмаль провод, полиимидная изоляция, дефектность изоляции, технологический контроль, испытания напряжением.