In multilayer non-magnetic structures with island layers Bi ([Bi-Al2O3]N) - at room temperature, an abnormally large optical non-reciprocity effect was detected. It is shown that this effect can be closely related to the behavior of dielectric permittivity in Bi nanostructured layers. It is found that in these multilayer island systems, the metallic nature of the optical response of the dielectric constant (Re(ε) is observed<0) in the optical range when the thickness of the dielectric layer of Al2O3 is less than 1.6 nm. It is assumed that the island systems [Bi-Al2O3]N exhibit the properties of "left" metamaterials with negative μ and ε in the optical range.

Наноструктурированные пленки с ферромагнитными слоями широко используются в наноэлектронике, сенсорных системах и телекоммуникации. Свойства нанопленок могут существенно отличаться от объемных материалов, что обусловлено влиянием интерфейсов, промежуточных слоев и диффузии. В данной работе развиваются методы спектральной эллипсометрии и магнитооптики для исследования оптических парамет-ров и процессов намагничивания для двух-и трехслойных пленок типа Cr/NiFe, Al/NiFe, Сr(Al)/Ge/NiFe на ситалловой подложке для различных толщин слоев Cr и Al. При толщине слоя меньше 20 nm имеется существенная зависимость комплексных коэффициентов преломления от толщины. Процессы перемагничи-вания двухслойных пленок слабо зависят от толщины верхнего слоя, однако значение коэрцитивности при перемагничивании трехслойных пленок может увеличиться более, чем в два раза, при увеличении толщины верхнего слоя с 4 до 20 nm.Результаты работы получены в рамках выполнения государственного задания Минобрнауки (задача 3.8022.2017.ВУ).

We study the thermoelectric coefficient of island transition metal films as a function of temperature and film thickness. We show that the thermoelectric coefficient value is determined by the properties of the film metal element and is different for different metals at dimensionless conductance value g>1 and g<1. The main factor in the behavior difference of the thermoelectric coefficient as a function of temperature is the individual characteristics of the Fermi surface of each metal. Dependence of the thermoelectric coefficient on the film thickness is also determined by the Fermi surface shape change.