“…Received at coordinates intensity -a weight/charge (m/z) the mass spectrum shows existence on the surface of the catalyst of various compounds of tungsten which abundance ratio can be calculated on peak height Следует обращать внимание обучающихся, что каждый из методов анализа дает лишь определенную часть информации об изучаемом объек-те, поэтому при исследовании различных веществ в настоящее время, как правило, используется совокупность методик. Так, в работе М. А. Турсунова, К. Г. Авезова, Б. Б. Умарова и Н. А. Парпиева комплексы никеля с арилгидразонами этилового эфира 5,5-диметил-2,4-диоксогексановой кислоты изучались на основе элементного анализа, ПМР-и ИК-спектроскопии [31]. А, например, в публикации «О разграничении семиграфита и графита по данным спектроскопии Рамана» описано исследование образцов посредством оптической микроскопии, рентгеновской дифракции, просвечивающей электронной микроскопии с высоким разрешением (НRТЕМ), электронной дифракции выбранных областей (SАЕD) и КР-спектроскопии (спектроскопией Рамана -СР) [32].…”