1994
DOI: 10.1049/el:19940532
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300 ps 4K read-only memory implemented with AlGaAs/GaAs HBT technology

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“…假设有 n 个存储单元与高位线相连, 则与低位线 [12] 或 者 二 极 管 逻 辑 的 与 门 (AND gate) [8] . 列 行 0 1 2 3 4 5 6 7 0 0 0 1 1 0 0 1 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 2 0 0 1 1 0 0 0 1 3 0 0 1 与 本 文 观 察 到 现 象 类 似 , 当 同 一 列 的 数 据 为 "1111111011111110", 未 被 选 中 存 储 单 元 的 漏 电 流 减 少 位 线 上 电 流 幅 度 , 寄 生 电 容 的 充 放 电 时 间 增 加 [11] .…”
Section: 电路设计与分析unclassified
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“…假设有 n 个存储单元与高位线相连, 则与低位线 [12] 或 者 二 极 管 逻 辑 的 与 门 (AND gate) [8] . 列 行 0 1 2 3 4 5 6 7 0 0 0 1 1 0 0 1 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 2 0 0 1 1 0 0 0 1 3 0 0 1 与 本 文 观 察 到 现 象 类 似 , 当 同 一 列 的 数 据 为 "1111111011111110", 未 被 选 中 存 储 单 元 的 漏 电 流 减 少 位 线 上 电 流 幅 度 , 寄 生 电 容 的 充 放 电 时 间 增 加 [11] .…”
Section: 电路设计与分析unclassified
“…列 行 0 1 2 3 4 5 6 7 0 0 0 1 1 0 0 1 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 2 0 0 1 1 0 0 0 1 3 0 0 1 与 本 文 观 察 到 现 象 类 似 , 当 同 一 列 的 数 据 为 "1111111011111110", 未 被 选 中 存 储 单 元 的 漏 电 流 减 少 位 线 上 电 流 幅 度 , 寄 生 电 容 的 充 放 电 时 间 增 加 [11] . 当输出序列为一长串"0"与少数"1", 或者相反 [1] InP HBT [11] CMOS [9] GaAs HBT [8] GaAs HBT [10] GaAs HBT (本文)…”
Section: 电路设计与分析unclassified
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“…Bipolar decoders are typically built either from ECL NOR gates [12] with complemented inputs or from AND gates [8] using diode logic. For the diode AND gate, a static current is supplied through the input diodes, thus the output of the diode decoder begins to change as its inputs change, rather than once the inputs cross a threshold voltage.…”
Section: Row and Column Decodersmentioning
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“…However, the ROM is often the limiting factor for the high speed of a DDFS, because it has to support clock rates in the order of two-and-half times the synthesized frequency [8]. Many technologies have been adopted to realize a high speed ROM with large size.…”
mentioning
confidence: 99%