A computer program for determination of thin films thickness and optical constants

Caricato, Anna Paola; Fazzi, A.; Leggieri, G.

doi:10.1016/j.apsusc.2005.03.069

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“…The refractive index, n , and the film thickness were calculated using Swanepoel’s method [ 19 ]. Algorithms and computer program for the calculation of envelope curves and refractive index were similar to those presented in [ 20 – 23 ]. The method allows the calculation of n when both the refractive index of the substrate and the position of the interference extrema are known.…”

Section: Resultsmentioning

confidence: 99%

Holographic and e-Beam Image Recording in Ge5As37S58–Se Nanomultilayer Structures

et al. 2016

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Processes of e-beam and holographic recording of surface relief structures using Ge5As37S58–Se multilayer nanostructures as registering media were studied in this paper. Optical properties of Ge5As37S58, Se layers, and Ge5As37S58–Se multilayer nanostructures were investigated. Spectral dependencies of refractive index were analyzed within the frames of single oscillator model. Values of optical band gaps for Ge5As37S58, Se layers, and Ge5As37S58–Se multilayer nanostructures were obtained from Tauc dependencies. Using e-beam and holographic recording, diffraction gratings were fabricated in Ge5As37S58–Se multilayer nanostructures. Images of Ukraine and Moldova state emblems were obtained by e-beam recording. Image size consisted of 512 × 512 pixels (size of 1 pixel was ~2 μm). Ge5As37S58–Se multilayer nanostructures are perspective for the direct recording of holographic diffraction gratings and other optical elements.

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Section: Resultsmentioning

confidence: 99%

Holographic and e-Beam Image Recording in Ge5As37S58–Se Nanomultilayer Structures

et al. 2016

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“…Regardless of whether the optical thickness of that arbitrary layer satisfies the condition (6) or not, the envelope function for the minima of the reflection spectrum min s R given by…”

Section: Envelope Functions For the Reflection And Transmission Spectmentioning

confidence: 99%

“…Envelopes of reflection and transmission spectra of one-layer systems have been used by many researches in order to derive optical constants of those systems [1][2][3][4][5][6][7]. In particular, the authors [8,9] have employed the envelope function for spectral reflection minima for finding of expressions for the incidence angles that provide zero p-or s-reflectance of one-layer structures.…”

Section: Introductionmentioning

confidence: 99%

Application of spectral envelope functions of multilayer structures for analytical determination of antireflection conditions

Kushnir¹

2009

Ukr. J. Phys. Opt.

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“…Actualmente existe un software llamado COPS desarrollado por nuestro grupo de investigación (5) , el cual determina las constantes ópticas en películas delgadas a partir de medidas de transmitancia espectral; sin embargo, este software es adecuado sólo para ser usado en películas homogéneas. También hay aplicaciones como PARAV (6) y Refractor (7) , el primero para calcular las constantes ópticas únicamente para películas homogéneas y el segundo para películas homogéneas y no homogéneas con una exactitud <= 2% (7) , dichos softwares no presentan facilidad de obtención. Teniendo en cuenta que se han realizado trabajos en los cuales las películas sintetizadas no son homogéneas (8) , surge la necesidad de crear una nueva aplicación a nuestro alcance que permita calcular estas constantes en películas tanto homogéneas, como no homogéneas.…”

Section: Introductionunclassified

Desarrollo de software para determinar constantes ópticas en películas delgadas semiconductoras no homogéneas

Celis

Africano-Mejía

Calderón-Triana

et al. 2022

inycomp

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En este trabajo se realizó el diseño y se desarrolló de una herramienta de software útil en el estudio de las propiedades ópticas de materiales semiconductores. Mediante este estudio es posible conocer si las películas delgadas semiconductoras no homogéneas sintetizadas son adecuadas para la fabricación de dispositivos semiconductores. Mediante el algoritmo desarrollado, basado en los métodos de Swanepoel, se logra estimar constantes ópticas de películas semiconductoras no homogéneas tales como: coeficiente de absorción (α), índice de refracción (n) y brecha de energía prohibida (Eg); además, se logra estimar la variación del espesor en ellas. Esta herramienta tiene como insumo la información en las curvas de transmitancia espectral resultantes de procedimientos experimentales. Se encontró que la herramienta propuesta ofrece un alto grado de confiabilidad y que, por tanto, se puede usar para estudiar las propiedades de películas delgadas semiconductoras que se utilicen en la fabricación de dispositivos semiconductores en diversas aplicaciones, entre ellas las energías limpias y renovables como son las celdas solares.

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A computer program for determination of thin films thickness and optical constants

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Holographic and e-Beam Image Recording in Ge5As37S58–Se Nanomultilayer Structures

Holographic and e-Beam Image Recording in Ge5As37S58–Se Nanomultilayer Structures

Application of spectral envelope functions of multilayer structures for analytical determination of antireflection conditions

Desarrollo de software para determinar constantes ópticas en películas delgadas semiconductoras no homogéneas

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