“…Поэтому одной из ключевых задач для широкого класса приборов на основе пленок является определение и контроль параметров внутренней ГР. Эта проблема особенно актуальна для тонкопленочных структур, в которых потенциалы на противоположных ГР пленки взаимосвязаны (наблюдается так называемый coupling-эффект [9][10][11]). Поэтому разработка методов независимой характеризации свойств ГР тонкопленочных структур имеет особое значение.…”