The validity of different fluctuation models for an explanation of the concentration dependence of exciton reflection line broadening in AIIBvI solid solutions is discussed on the example of Zn,Cdl-,S, Zn,Cdl-,Te, and ZnS,Sel-, systems. It is shown that the concentration dependence can be explained with the help of models describing the interaction of excitons with largescale fluctuations of solid solution composition. At small concentrations of one component of solid solution the model of localization of the exciton as a whole by a fluctuation potential can be used. I n the range of comparable concentrations of components there can be applied models accounting for the interaction of only the hole, or only the electron with the fluctuation potential, depending on whether there is anion or cation substitution.Am Beispiel der Zn,Cdl -,S-, Zn,Cdl -,Tc-und ZnS,Sel -,-Systeme wird die Giiltigkeit verschiedener Fluktuationsmodelle zur Erklarung der Konzentrationsabhangigkeit der Verbreiterung der Exzitonenreflexionslinien in AIIBVI-Mischkristallen diskutiert. Es wird gezeigt, daI3 die Konzentrationsabhangigkeit mit Modcllen erklart werden kann, die die Wechselwirkung von Exzitonen mit makroskopischen Fluktuationen der Mischkristallzusammensetzung beschreiben. Bei geringen Konzentrationen der einen Komponente des Mischkristalls kann das Model1 der Gesamtlokalisierung des Exzitons durch das Fluktuationspotential benutzt werden. Im Bereich vergleichbarer Konzentrationen der Komponenten konnen Modelle benutzt werden, die die Wechselwirkung des Loches diein, oder des Elektrons allein mit dem Fluktuationspotential in Abhangigkeit davon beschrciben, ob das Anion oder Kation substituiert ist.