2007
DOI: 10.1016/j.jnoncrysol.2007.07.008
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Characterizations of pulsed laser deposited SiC thin films

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
4
1

Citation Types

0
21
0
6

Year Published

2010
2010
2019
2019

Publication Types

Select...
4
1
1

Relationship

0
6

Authors

Journals

citations
Cited by 29 publications
(27 citation statements)
references
References 44 publications
0
21
0
6
Order By: Relevance
“…molekulanyaláb epitaxia, porlasztás, ionimplantáció [35]. A legelterjedtebb módszer a kémiai gőzfázisú leválasztás (Chemical Vapor Deposition -CVD) [36].…”
Section: Szilícium-karbidunclassified
See 4 more Smart Citations
“…molekulanyaláb epitaxia, porlasztás, ionimplantáció [35]. A legelterjedtebb módszer a kémiai gőzfázisú leválasztás (Chemical Vapor Deposition -CVD) [36].…”
Section: Szilícium-karbidunclassified
“…Legtöbbször kristályos réteg előállítása a cél, ezért fűtött hordozókat használnak. Utólagos kifűtéssel [35,37] vagy lézeres kezeléssel is növelhető a réteg kristályossági foka [38]. Hidrogén bevezetésével, hasonlóan az amorf szilíciumhoz, stabilizálni lehet a szerkezetet a logó kötések megkötésével [39].…”
Section: Szilícium-karbidunclassified
See 3 more Smart Citations