Forecasting the Persistence of Tantalum Chip-Capacitors Depending on Time

Abstract

ɊȺȾɂɈɌȿɏɇɂɄȺ ɂ ɋȼəɁɖɍȾɄ 620. 169.2: 658.562.012.7 ȼ. Ⱥ. Ʉɭɡɧɟɰɨɜɚ, ɚɫɩɢɪɚɧɬ, ɂɠȽɌɍ ɢɦɟɧɢ Ɇ. Ɍ. Ʉɚɥɚɲɧɢɤɨɜɚ ȼ. ȼ. Ɇɭɪɚɜɶɟɜ, ɞɨɤɬɨɪ ɬɟɯɧɢɱɟɫɤɢɯ ɧɚɭɤ, ɩɪɨɮɟɫɫɨɪ, ɂɠȽɌɍ ɢɦɟɧɢ Ɇ. Ɍ. Ʉɚɥɚɲɧɢɤɨɜɚ ɉɊɈȽɇɈɁɂɊɈȼȺɇɂȿ ɋɈɏɊȺɇəȿɆɈɋɌɂ ɌȺɇɌȺɅɈȼɕɏ ɈɄɋɂȾɇɈ-ɉɈɅɍɉɊɈȼɈȾɇɂɄɈȼɕɏ ɑɂɉ-ɄɈɇȾȿɇɋȺɌɈɊɈȼ ɉɈ ȼɊȿɆȿɇɇɈɃ ɁȺȼɂɋɂɆɈɋɌɂ * ȼɜɟɞɟɧɢɟ ɞɧɢɦɢ ɢɡ ɜɚɠɧɟɣɲɢɯ ɯɚɪɚɤɬɟɪɢɫɬɢɤ ɧɚɞɟɠ-ɧɨɫɬɢ ɬɚɧɬɚɥɨɜɵɯ ɤɨɧɞɟɧɫɚɬɨɪɨɜ ɜ ɡɚɜɢɫɢ-ɦɨɫɬɢ ɨɬ ɧɚɡɧɚɱɟɧɢɹ ɢ ɭɫɥɨɜɢɣ ɷɤɫɩɥɭɚɬɚ-ɰɢɢ ɹɜɥɹɸɬɫɹ ɩɨɤɚɡɚɬɟɥɢ ɛɟɡɨɬɤɚɡɧɨɫɬɢ, ɞɨɥɝɨɜɟɱɧɨ-ɫɬɢ ɢ ɫɨɯɪɚɧɹɟɦɨɫɬɢ [1][2][3][4][5][6][7]. Ƚɚɦɦɚ-ɩɪɨɰɟɧɬɧɵɣ ɫɪɨɤ ɫɨɯɪɚɧɹɟɦɨɫɬɢ (Ɍ ɫJ ) -ɷɬɨ ɫɩɨɫɨɛɧɨɫɬɶ ɤɨɧɞɟɧɫɚɬɨɪɚ ɫ ɜɟɪɨɹɬɧɨɫɬɶɸ J ɫɨɯɪɚɧɹɬɶ ɫɜɨɢ ɫɜɨɣɫɬɜɚ ɜ ɭɫɬɚɧɨɜ-ɥɟɧɧɵɯ ɩɪɟɞɟɥɚɯ ɜ ɨɩɪɟɞɟɥɟɧɧɵɯ ɭɫɥɨɜɢɹɯ ɯɪɚɧɟɧɢɹ ɢ ɬɪɚɧɫɩɨɪɬɢɪɨɜɚɧɢɢ ɛɟɡ ɜɨɡɞɟɣɫɬɜɢɣ ɷɥɟɤɬɪɢɱɟɫɤɨ-ɝɨ, ɦɟɯɚɧɢɱɟɫɤɨɝɨ ɢ ɢɧɨɝɨ ɮɚɤɬɨɪɨɜ. ɋɨɯɪɚɧɹɟɦɨɫɬɶ ɤɨɧɞɟɧɫɚɬɨɪɨɜ ɩɪɨɜɟɪɹɟɬɫɹ ɩɭɬɟɦ ɩɪɨɜɟɞɟɧɢɹ ɢɫɩɵ-ɬɚɧɢɣ ɦɟɬɨɞɨɦ ɞɥɢɬɟɥɶɧɨɝɨ ɯɪɚɧɟɧɢɹ ɢɥɢ ɩɭɬɟɦ ɭɫ-ɤɨɪɟɧɧɨɣ ɨɰɟɧɤɢ [8].ɂɡɜɟɫɬɧɨ, ɱɬɨ ɤɚɱɟɫɬɜɨ ɢɫɯɨɞɧɵɯ ɦɚɬɟɪɢɚɥɨɜ [9, 10] ɩɪɢ ɢɡɝɨɬɨɜɥɟɧɢɢ ɩɪɨɦɵɲɥɟɧɧɵɯ ɢɡɞɟɥɢɣ ɨɤɚɡɵɜɚɟɬ ɫɭɳɟɫɬɜɟɧɧɨɟ ɜɥɢɹɧɢɟ ɧɚ ɢɯ ɧɚɞɟɠɧɨɫɬɶ, ɚ ɫɨɜɪɟɦɟɧɧɵɟ ɨɛɥɚɫɬɢ ɩɪɢɦɟɧɟɧɢɹ ɬɚɧɬɚɥɨɜɵɯ ɨɤɫɢɞɧɨ-ɩɨɥɭɩɪɨɜɨɞɧɢɤɨɜɵɯ ɤɨɧɞɟɧɫɚɬɨɪɨɜ ɩɪɟɞɴ-ɹɜɥɹɸɬ ɩɨɜɵɲɟɧɧɵɟ ɬɪɟɛɨɜɚɧɢɹ ɤ ɧɚɞɟɠɧɨɫɬɢ, ɩɨ-ɷɬɨɦɭ ɢɫɫɥɟɞɨɜɚɧɢɟ ɫɨɯɪɚɧɹɟɦɨɫɬɢ -ɨɞɧɨɣ ɢɡ ɯɚ-ɪɚɤɬɟɪɢɫɬɢɤ ɧɚɞɟɠɧɨɫɬɢ -ɹɜɥɹɟɬɫɹ ɧɟɨɛɯɨɞɢɦɨɣ ɡɚɞɚɱɟɣ.ɉɪɨɰɟɫɫ ɢɫɩɵɬɚɧɢɣ ɧɚ ɫɨɯɪɚɧɹɟɦɨɫɬɶ (ɫɪɨɤ ɫɨɯɪɚ-ɧɹɟɦɨɫɬɢ ɤɨɧɞɟɧɫɚɬɨɪɨɜ ɦɨɠɟɬ ɞɨɫɬɢɝɚɬɶ 25-30 ɥɟɬ) ɡɚɧɢɦɚɟɬ ɞɥɢɬɟɥɶɧɨɟ ɜɪɟɦɹ, ɩɨɷɬɨɦɭ ɞɥɹ ɨɰɟɧɤɢ ɤɚ-ɱɟɫɬɜɚ [11, 12] ɦɚɬɟɪɢɚɥɨɜ ɬɚɧɬɚɥɨɜɵɯ ɱɢɩ-ɤɨɧɞɟɧɫɚ-ɬɨɪɨɜ, ɧɟɨɛɯɨɞɢɦɨ ɩɪɢɦɟɧɟɧɢɟ ɭɫɤɨɪɟɧɧɵɯ ɦɟɬɨɞɨɜ ɨɰɟɧɤɢ. Ʉ ɭɫɤɨɪɟɧɧɵɦ ɦɟɬɨɞɚɦ ɨɰɟɧɤɢ ɫɨɯɪɚɧɹɟɦɨ-ɫɬɢ ɨɬɧɨɫɹɬɫɹ: ɦɟɬɨɞ ɦɨɞɟɥɢɪɨɜɚɧɢɹ, ɦɟɬɨɞ ɩɪɨɝɧɨ-ɡɢɪɨɜɚɧɢɹ ɩɨ ɜɪɟɦɟɧɧɨɣ ɡɚɜɢɫɢɦɨɫɬɢ ɢ ɦɟɬɨɞ ɩɪɨ-ɝɧɨɡɢɪɨɜɚɧɢɹ ɫɨɯɪɚɧɹɟɦɨɫɬɢ ɩɨ ɜɪɟɦɟɧɧɨɦɭ ɫɟɱɟ-ɧɢɸ.ȼ ɞɚɧɧɨɣ ɪɚɛɨɬɟ ɪɚɫɫɦɚɬɪɢɜɚɟɬɫɹ ɦɟɬɨɞ ɩɪɨɝɧɨɡɢ-ɪɨɜɚɧɢɹ ɩɨ ɜɪɟɦɟɧɧɨɣ ɡɚɜɢɫɢɦɨɫɬɢ [13] ɞɥɹ ɨɰɟɧɤɢ ɫɨɯɪɚɧɹɟɦɨɫɬɢ ɤɨɧɞɟɧɫɚɬɨɪɨɜ ɩɨ ɪɟɡɭɥɶɬɚɬɚɦ ɢɫɩɵ-ɬɚɧɢɣ ɩɪɢ ɞɥɢɬɟɥɶɧɨɦ ɯɪɚɧɟɧɢɢ ɜ ɭɫɥɨɜɢɹɯ ɨɬɚɩɥɢ-ɜɚɟɦɨɝɨ ɯɪɚɧɢɥɢɳɚ ɜ ɬɟɱɟɧɢɟ ɫɪɨɤɚ ɧɟ ɦɟɧɟɟ 0,25Ɍ ɫJ .ɂɫɯɨɞɧɵɟ ɬɪɟɛɨɜɚɧɢɹ ɉɪɢɦɟɧɟɧɢɟ ɪɚɫɱɟɬɧɵɯ ɦɟɬɨɞɢɤ, ɩɨɡɜɨɥɹɸɳɢɯ ɭɫɤɨɪɟɧɧɨ ɨɰɟɧɢɬɶ ɫɨɯɪɚɧɹɟɦɨɫɬɶ ɤɨɧɞɟɧɫɚɬɨɪɨɜ, -ɩɪɨɰɟɫɫ ɫɥɨɠɧɵɣ ɢ ɦɨɠɟɬ ɡɚɧɢɦɚɬɶ ɞɥɢɬɟɥɶɧɨɟ ɜɪɟ-ɦɹ (ɞɥɹ ɪɚɫɱɟɬɚ ɧɟɨɛɯɨɞɢɦɵ ɞɚɧɧɵɟ ɡɚ 25 % ɨɬ ɫɪɨɤɚ

Application of the STRESS TEST Method for Quality Control of Electrolytic Capacitors and Capacitors with a Double Electric Layer

“…Современные конденсаторы должны обладать повышенной надежностью, что и исследуется в работах различных авторов [3][4][5][6][7][8][9][10][11][12][13][14]. Конденсаторы должны обладать стабильными электрическими характеристиками, такими как емкость, полное сопротивление, эквивалентное последовательное сопротивление (далее -ЭПС) и др.…”