1981
DOI: 10.1002/andp.19814930408
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Lebensdauermessungen an Resonanzzuständen im 28Si‐Compoundkern mittels Schatten‐Effekt

Abstract: Inhaltsubersicht. Unter Anwendung des Schatten-Effektes und der Resonanzreaktion mAl(p, a) 24Mg an einkristallinen, dicken Al-Targets wurden fur drei Resonanzenergien Ep(keV) die Lebensdauern t(as) der entsprechenden Anregungszustande E* (MeV) des Compoundkernes **Si gemessen und die zugehorigen Breiten I ' (eV) berechnet: 1365 1"Wl 2f <1 > 350 1439 12,974 1-9 f 4 + 23 74 -60 + 14 1647 13,173 3-1 8 i 5 37-8 Als Target dienten (110)-orientierte Al-Einkristalle. Die Registierung der a-Teilchen erfolgte mit gmBf… Show more

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