Measurement of dielectric loss at millimeter range in the low loss materials with arbitrary ratio of wavelength and sample thickness.

Abstract

For the first time the measurement technique is developed for dielectric loss in the low loss materials at the long-wave part of the millimeter range of electromagnetic waves on the basis of compact open semi-symmetric confocal resonator for the samples with arbitrary ratio of the sample thickness and wavelength in the dielectric material. The loss in the aluminum oxide ceramics (Al 2 O 3) of the brand VK-99 was measured at room temperature at the frequency 69.4 GHz: tanδ = 3.110 4. This value is close to the corresponding value in the aluminium oxide ceramics Al 2 O 3 of the Russian production of the brand VK100M, and it is lower than in the corresponding ceramics of the Chinese production [5]. In addition, this value is close to the loss in the single crystal of Al 2 O 3 (sapphire). This indicates a very high quality of the modern Russian ceramics of aluminum oxide.

Оптические материалы для THz диапазона

“…Это широкозонный полупроводник, имеющий более 200 политипов, но лишь три из них с максимальной шириной запрещенной зоны имеют реальные перспективы использования в ТHz технике. Наиболее интересны 3H-SiC и 6H-SiC с шириной запрещенной зоны 2.36 eV и 3.03 eV, соответственно [40][41][42].…”

“…Основная область применения SiC в ТHz области -окна ввода-вывода энергии уровня мощности 50−500 kW [40][41][42]. Этот материал несколько уступает алмазу, но алмаз пока значительно дороже.…”

“…В работах [40][41][42] исследованы диэлектрические потери в монокристаллическом карбиде кремния политипа 6H-SiC в диапазоне частот от 6 до 380 GHz (рис. 6) и в интервале температур от 20 до 550 • С. На низких частотах ( f < 10 GHz) тангенс угла потерь ∼ 1/ f .…”

“…Основные физические свойства кристаллов[9,[23][24][25]34,[40][41][42][43][44][45][46] ТHz сигналы, прошедшие через воздух и высокоомный кремний[23]. ТHz диапазоне.…”