Method of Accelerated Tests for Persistence of Tantalum Chip Capacitor

Kuznetsova, V.A.; Муравьев, В. В.

doi:10.14489/td.2016.07.pp.057-060

Cited by 1 publication

(1 citation statement)

References 0 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Unclassified

Order By: Relevance

“…Современные конденсаторы должны обладать повышенной надежностью, что и исследуется в работах различных авторов [3][4][5][6][7][8][9][10][11][12][13][14]. Конденсаторы должны обладать стабильными электрическими характеристиками, такими как емкость, полное сопротивление, эквивалентное последовательное сопротивление (далее -ЭПС) и др.…”

Section: Introductionunclassified

Application of the STRESS TEST Method for Quality Control of Electrolytic Capacitors and Capacitors with a Double Electric Layer

Kuznetsov¹

2021

Intellekt. Sist. Proizv.

View full text Add to dashboard Cite

В статье рассматривается проблема подтверждения длительной безотказности современного конденсаторостроения в короткие сроки, а именно, оксидно-электролитических алюминиевых конденсаторов, танталовых объемно-пористых конденсаторов и конденсаторов с двойным электрическим слоем. Особое внимание уделяется эксплуатационным параметрам конденсаторов - емкости и эквивалентному последовательному сопротивлению. Проведено исследование длительной безотказности оксидно-электролитических алюминиевых конденсаторов (3000 ч), танталовых объемно-пористых конденсаторов (24 000 ч) и конденсаторов с двойным электрическим слоем (600 ч), получены статистические данные распределения емкости и эквивалентного последовательного сопротивления. Для уменьшения времени испытаний на длительную безотказность был использован ускоренный метод испытаний на надежность стресс-теста. Анализ результатов испытаний конденсаторов на длительную безотказность и методом «Стресс-тест» показал, что применение метода «Стресс-тест» допустимо при испытании объемно-пористых танталовых конденсаторов и оксидно-электролитических алюминиевых конденсаторов, так как прослеживается аналогичный характер изменения электрических параметров, как после проведения испытаний на длительную безотказность. Однако применение метода «Стресс-тест» для конденсаторов с двойным электрическим слоем не представляется возможным в связи с отличной структурой и требует дополнительного подбора режимов проведения испытаний.

show abstract

Section: Introductionunclassified

Application of the STRESS TEST Method for Quality Control of Electrolytic Capacitors and Capacitors with a Double Electric Layer

Kuznetsov¹

2021

Intellekt. Sist. Proizv.

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

Method of Accelerated Tests for Persistence of Tantalum Chip Capacitor

Cited by 1 publication

References 0 publications

Application of the STRESS TEST Method for Quality Control of Electrolytic Capacitors and Capacitors with a Double Electric Layer

Application of the STRESS TEST Method for Quality Control of Electrolytic Capacitors and Capacitors with a Double Electric Layer

Contact Info

Product

Resources

About