Optical microscopic, synchrotron X-ray topographic and reticulographic study of homoepitaxial CVD diamond

Micro-Raman scattering from undoped and phosphorous-doped (111) homoepitaxial diamond films: Stress imaging of cracks

“…[9][10][11][12][13][14][15] This cracking has been attributed to tensile stress arising from the difference between substrate and epilayer lattice parameter, 15 to the presence of impurities and/or crystal imperfections in the lattice, 9,10,13 or to different thermal-expansion coefficients between substrate and film. First, there is a strong dependence of film morphology upon substrate orientation.…”

Методы Рентгеновской Дифракционной Топографии (О Б З О Р)

“…Сетка служит для разделения дифрагированного пучка на массив микропучков и отслеживания распространения каждого отдельного микропучка. За счет записи ретикулографических изображений на нескольких расстояниях от образца до детектора и соответствующей обработки данных можно получить локальное распределение разориентации по образцу [164,165].…”

“…В работе [164] ретикулография применялась для измерения деформаций, связанных с секториальными границами в естественных и синтетических алмазах. Такие границы являются главной особенностью топограммы, представленной на рис.…”