Polarizability Studies of Amorphous Silicon

Abstract

An attempt is made to evaluate the polarizability of amorphous silicon. These evaluations are carried out for samples prepared by chemical vapour deposition (CVD) and glow-discharge (GD). Spectroscopic models like that of Wemple-Didomenico and Ance are employed for the purposes of calculation. This study may serve as a bridge between experimental results that follow from Raman or infra-red spectroscopy and those that are obtained from absorptance/reflectance studies.Es wird versucht, die Polarisierbarkeit von amorphem Silizium zu berechnen. Diese Rechnungen werden fur Proben durchgefuhrt, die mittels chemischer Dampfabscheidung (CVD) und Glimmentladung (GD) hergestellt werden. Spektroskopische Modelle, wie das von Wemple-Didomenico und Ance werden fur die Berechnung benutzt. Diese Untersuchung kann als Briicke zwischen experimentellen Ergebnissen, die aus Raman-oder Infrarotspektroskopie und denen, die aus Absorptions/Reflexionsuntersuchungen erhalten werden, dienen.