1988
DOI: 10.1103/physrevb.37.2785
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Theory of dielectric breakdown in metal-loaded dielectrics

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“…Beale et al 28 propôs um modelo de ruptura de dielétrico onde o processo ocorre via uma série de falhas microscópicas que leva a uma ruptura macroscópica e à uma descarga eletrostática. O campo elétrico necessário para causar esta completa ruptura é o mesmo campo que é necessário para causar uma falha microscópica.…”
Section: Resultsunclassified
“…Beale et al 28 propôs um modelo de ruptura de dielétrico onde o processo ocorre via uma série de falhas microscópicas que leva a uma ruptura macroscópica e à uma descarga eletrostática. O campo elétrico necessário para causar esta completa ruptura é o mesmo campo que é necessário para causar uma falha microscópica.…”
Section: Resultsunclassified
“…Although a similar assumption that breakdown occurs when the maximum cluster's length becomes large enough was proposed by other authors, [10][11][12] here, a quantitative approach to describe the stochastic behavior of electrical breakdown strength and lifetime can be derived from our model. In a matrix with finite size, the probability of no clusters larger than l can be written as 13,14 …”
Section: Discussionmentioning
confidence: 99%
“…[10][11][12][13][14][15][16] The streamer tree is assumed to be fully conductive and electrically attached to the electrode from which it originates. The voltage field is defined over a set of points in a rectangular grid.…”
Section: Physical Model and Algorithmmentioning
confidence: 99%