Аннотация. Методами оптической и электронной микроскопии, оптической профилометрии исследована микроструктура пленок металлизации и нитрида кремния на кремниевых пластинах. Получены значения шероховатости металлизации и нитрида кремния при варьируемой температуре предварительного прогрева подложек. Определен режим предварительного прогрева кремниевых подложек, обеспечивающий минимальную шероховатость различных пленок металлов и минимальную дефектность многослойной структуры металлизации и нитрида кремния. Обнаружено повышение удельной плотности структурных дефектов пленок алюминия с увеличением температуры формирования тонких пленок, что, по-видимому, является следствием влияния повышенного коэффициента самодиффузии алюминия по сравнению с титаном. Предложена методика оценки микроструктуры тонких пленок алюминия, титана, сформированных магнетронным распылением, и нитрида кремния, полученных методом плазмохимического осаждения на металлических пленках. Методика основана на определении минимального количества и размеров структурных дефектов с применением методов электронной микроскопии и профилометрии. Методика и результаты исследований позволяют обоснованно подходить к разработке технологии устройств микросистемной техники.