2019
DOI: 10.21883/pjtf.2019.24.48802.17996
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Увеличение фототока Ga(In)As-субэлемента в многопереходных солнечных элементах GaInP/Ga(In)As/Ge

Abstract: An experimental and theoretical study of the spectral characteristics of the Ga(In)As subcell of the GaInP/Ga(In)As/Ge triple-junction solar cells has been carried out. It is shown that the use of a wide-gap “window” layer with an optimized thickness (Ga0.51In0.49P - 100 nm, Al0.4Ga0.6As - 110 nm, Al0.8Ga0.2As - 115 nm) for the Ga(In)As subcell allows increasing its photocurrent by about 0.5 mA/cm2, replacing the material of the back potential barrier of the GaInP subcell from Al0.53In0.47P to p+-Ga0.51In0.49P… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...

Citation Types

0
0
0
2

Publication Types

Select...
1

Relationship

1
0

Authors

Journals

citations
Cited by 1 publication
(2 citation statements)
references
References 9 publications
0
0
0
2
Order By: Relevance
“…Структуры МП СЭ были выращены методом МОС-гидридной эпитаксии (МОС -металлоорганические соединения) на подложках p + -Ge (100) при пониженном давлении 100 mbar. Детали технологии выращивания структур и создания чипов СЭ представлены в [10]. Измерение спектральных зависимостей внешнего квантового выхода МП СЭ проводилось на специализированной установке в диапазоне длин волн до 1400 nm.…”
unclassified
See 1 more Smart Citation
“…Структуры МП СЭ были выращены методом МОС-гидридной эпитаксии (МОС -металлоорганические соединения) на подложках p + -Ge (100) при пониженном давлении 100 mbar. Детали технологии выращивания структур и создания чипов СЭ представлены в [10]. Измерение спектральных зависимостей внешнего квантового выхода МП СЭ проводилось на специализированной установке в диапазоне длин волн до 1400 nm.…”
unclassified
“…Для решения этой проблемы в качестве нуклеационного слоя может быть использован твердый раствор GaInP, согласованный по параметру решетки с Ge-подложкой, который позволяет уменьшить толщину диффузионного эмиттера Ge-субэлемента. В этом случае диффузия атомов фосфора будет приводить к возникновению p−n-перехода на глубине порядка 0.3−0.4 µm [10]. При этом потери, связанные с отражением света от германиевого субэлемента, на гетерогранице GaInP/Ge возрастут по сравнению с потерями на гетерогранице GaAs/Ge, так как слой GaInP будет выполнять роль селективного отражателя.…”
unclassified