Физическое Моделирование Экстремальных Событий При Взаимодействии Одиночных Заряженных Частиц С Материалом Современных Интегральных Микросхем

Abstract

В докладе представлены результаты моделирования ядерного взаимодействия одиночных заряженных частиц с материалом микросхемы. Показано, что вторичные частицы от данного типа взаимодействия могут повлиять на эффективность систем парирования сбоев в интегральных микросхемах.