В докладе представлены результаты моделирования ядерного взаимодействия одиночных заряженных частиц с материалом микросхемы. Показано, что вторичные частицы от данного типа взаимодействия могут повлиять на эффективность систем парирования сбоев в интегральных микросхемах.

Статья посвящена разработке тестового кристалла и его испытаниям на стойкость к воздействию ТЗЧ. В ходе работы был создан набор библиотечных элементов, включающий триггеры типа «ведущий - ведомый». В работе приведено сравнение сечения сбоев в массивах триггеров в зависимости от автоматизированных режимов размещения топологии кристалла.

В работе на основе СнК навигационного приемника раскрыты особенности проектирования современных цифровых приемных КМОП-трактов к воздействию одиночных ядерных частиц. Изготовлены микросхемы и проведены исследования на воздействие специальных факторов. В результате исследований экспериментально установлено, что глубоко субмикронные схемы имеют низкий порог чувствительности и что при применении методов повышения стойкости к СОЗУ в частоте сбоев начинают доминировать триггеры.

В докладе представлены экспериментальные данные сечения сбоев от ТЗЧ цифровой СнК, изготовленной по радиационно стойкой технологии 65 нм.