“…При туннелировании между фотопроводящими слоями In 0.62 Ga 0.38 As электроны захватываются ловушками в In 0.57 Al 0.43 As, которые служат центрами рекомбинации; их наличие приводит к увеличению сопротивления всей структуры. Исследуемый образец создан на основе работ авторов [3][4][5] по изучению генерации терагерцевого (THz) излучения в таких полупроводниковых структурах.…”