Anwendung der Vierpoltheorie auf die Probleme der optischen Reflexionsminderung, Reflexionsverstärkung und der Interferenzfilter. (Mit 2 Abbildungen)

Abstract

Anwendung der Vierpolthaorie auf die Bobleme der optischenReflexionsmihderrrng, Ref lexionsuerstdkkung und der Interferenzfilter V m Kurt Sc hus te r (Mit 2 Abbildungen) Inhaltsiibersicht Die bei dcr Behandlung von Leitungavorgangen der Hochfrequenztechnik und Akustik seit langem bewahrte Vierpoltheorie kann auch auf die Lichtausbreituug durch eine Folge planparalleler Schichten Anwendung finden. Fur scnkrechten Lichteinfall werden die Grundgleichungen angegeben. Als Beispiel wird das Problenl der Entspiegeliing durch eine Doppelschicht dargestellt. Durch Aufbringen geeigneter dunner Schichten IaDt sich die storende Reflexion an Linsen weitgehend beseitigen 1 ) m d das Reflexiollsvermogen von Metallupiegeln stark erhohen*). Durch AneinandeEreihen eincr Anzahl dunner Schichten aus verschiedenen Stoffen konnen Spektralfilter von sehr geringer DurchlaBbreite konstruiert werden ". Die erzielten Wirkungen beruhen auf der Lichtinterferenz an diinnen Schichten. Zur ,theoretischen Behandlung Per genannten Probleme kann mit Vorteil das aus d r Hochfrequenztechnik und Akustik bekannte Verfahren der Vierpoltheorie 4, Rerangczogen werden. Besonders einfach liegen die Verhaltnisse bei senkrechteni Lichteinfall. Im folgenden sol1 daher dieses Verfahren in seiner Nutzanwendung auf, die Optik kurz beschrieben wid seine Brauchbarkeit an einem spezicllen Beispiel dargelegt werden. Die Wirkung jeder Schicht ist durch dit: drei GroBen Brechungsindex n, Absorptionskoeffizient x und Dicke gegeben. Die Kreisfrequeriz werde niit 'w, die Lichtgeschwindigkeit iin Vakuuin niit c bezeichnet; A und 6 sollen Wellenlange und Lichtgeschwindigkeit des betreffenden Mediums bedeuten. Die reelle Urelleilzahl ist dann gegehen durch 1) Vgl. . 4) Fur die Akustik sind die entsprechenden Gedankengange z . R . in dem Artikel des Verfassers ,,Die Messung mechanischer und akustischer Widerstande" (Ergebnisse der erakten Naturwissenschaften 21, 313 (1946) kurz dargestellt. Im iibrigen sei auf die ienschliigige Lieratur der Schwachstmstechnik und der Hochfrequenztechnik verwiesen.

Application of spectral envelope functions of multilayer structures for analytical determination of antireflection conditions

“…These results are further applied for ascertaining analytical antireflection conditions for transparent multilayer structures. It has turned out that the antireflection conditions derived by us generalise the corresponding conditions for the case of two-layer coatings [12,13], which have been earlier obtained with the aid of other techniques.…”

Jones Matrix Formalism for Quasioptical EPR

“…In contrast, conventional EPR spectrometers have most typically been analyzed using equivalent circuits (14) or transmission line models (15), which do not explicitly treat polarization-sensitive components such as are found, for example, in an induction mode spectrometer (5,6,16). In fact, one can generalize the conventional methods of analysis to handle the more complex cases (16), but the method is easiest to use when only one polarization state at a time is analyzed (17,18).…”

“…The effective series impedance Z eff at resonance may not be determined by directly comparing Eq. [18] with Eq. [15] since Z in Eq.…”

“…[15] since Z in Eq. [18] becomes indeterminate when sinh ␥d ϭ 0. In terms of the Z matrix, this condition corresponds to Z 12 3 ϱ, which effectively removes the shunt impedance from the T-network.…”

“…Typically, one assumes that Z g is purely reactive (i.e., Z g ϭ ϪiX g ) and small (25), although this formalism can handle small losses due to such effects as diffraction from an iris or resistive losses in the metal of the mirror. The transfer matrix for a slab of dielectric of thickness d and [18] where ␥ ϭ ik 0 ͌ ⑀, k 0 ϭ 2/ 0 is the wave number of the radiation in free space, ⑀ ϭ ⑀Ј ϩ i⑀Љ is the permittivity of the medium, and ϭ 0 (1 ϩ ) is its permeability. In the absence of an EPR resonance, ϭ 1, and the complex components of ␥ ϭ ␣ ϩ i␤ may be expressed as…”