2020
DOI: 10.1016/j.matpr.2020.02.490
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Development of super-smooth flat silicon mirror substrates using bowl-feed chemical-mechanical polishing

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
4
1

Citation Types

2
5
0
2

Year Published

2020
2020
2024
2024

Publication Types

Select...
9

Relationship

0
9

Authors

Journals

citations
Cited by 16 publications
(9 citation statements)
references
References 12 publications
2
5
0
2
Order By: Relevance
“…Эффективная шероховатость поверхности после ХМП в диапазоне частот 0.013−64 µm −1 составила около 0.54 nm. Следует отметить, что практически совпадающие значения были получены при изучении Si пластин после ХМП для микроэлектронной промышленности в [33]. Хорошая сшивка PSD-функций, полученных обоими методами, подтверждает, что рассеяние главным образом определяется поверхностью, а не нарушенным слоем.…”
Section: Si Ch1unclassified
“…Эффективная шероховатость поверхности после ХМП в диапазоне частот 0.013−64 µm −1 составила около 0.54 nm. Следует отметить, что практически совпадающие значения были получены при изучении Si пластин после ХМП для микроэлектронной промышленности в [33]. Хорошая сшивка PSD-функций, полученных обоими методами, подтверждает, что рассеяние главным образом определяется поверхностью, а не нарушенным слоем.…”
Section: Si Ch1unclassified
“…5–7 The special working conditions of OFC components require it to have low damage, high dimensional accuracy and high surface flatness. At present, the polishing methods used to obtain low damage and high surface accuracy include electrochemical polishing, 8 plasma-assisted chemical polishing, 9 bowl-feed polishing, 10 and chemical mechanical polishing. 11 All of the above methods can reduce the surface roughness and improve the machined surface quality, but some of them still have inevitable disadvantages.…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
“…C развитием мощных источников синхротронного излучения (3+ и 4-го поколения), а также лазеров на свободных электронах [1-3] остро встала проблема прецизионных рентгенооптических элементов, стойких к большим (до нескольких kW) радиационным и тепловым нагрузкам. В настоящее время считается, что в качестве материала подложек для зеркал, работающих под столь мощными пучками излучения, может рассматриваться в первую очередь монокристаллический кремний [4][5][6]. Другие материалы, в том числе карбид кремния и металлы (медь, алюминий, бериллий) по своим теплофизическим характеристикам сильно ему уступают [7,8].…”
Section: Introductionunclassified