1978
DOI: 10.1002/crat.19780130918
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Näherungsverfahren für die Integraldarstellung von Beugungsintensitäten gestörter Kristalle

Abstract: Für die Berechnung des elektronenmikroskopischen Beugungskontrastes ohne Säulenapproximation wird eine Näherung in Form einer Störungsrechnung vorgeschlagen. Durch Anwendung auf den Zweistrahlfall ergeben sich für die Amplituden der gebeugten Wellen Integraldarstellungen.

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