Let a 1 , . . . , a n be a permutation of [n]. Two disjoint order-isomorphic subsequences are called twins. We show that every permutation of [n] contains twins of length Ω(n 3/5 ) improving the trivial bound of Ω(n 1/2 ). We also show that a random permutation contains twins of length Ω(n 2/3 ), which is sharp.In this paper we regard permutations as sequences of symbols, devoid of any group-theoretic meaning. So, for us a permutation on a finite set Σ is a sequence of elements of Σ in which each element of Σ appears exactly once. We call a subsequence of a permutation subpermutation. For instance, 135642 is a permutation of [6], and 1562 is a subpermutation inside, which itself is a permutation of {1, 2, 5, 6}. We denote permutations by bold letters.Throughout the paper we consider only the permutations of finite sets of natural numbers. We say that permutations a = (a 1 , . . . , a L ) and b = (b 1 , . . . , b L ) are order-isomorphic if (a i < a j ) ⇐⇒ (b i < b j ). For example, 1562 is order-isomorphic to 1342.We call a pair of subpermutation a, b of c twins if a and b are order-isomorphic and disjoint (do not contain the same symbol). For example, 152 and 364 are twins in 135642 of length 3. We denote by t(n) the largest integer such that every permutation of [n] contains a pair of twins of length t(n).The problem of estimating t(n) was raised by Gawron [5], who observed that t(n) ≥ (n 1/2 − 1)/2 follows from the Erdős-Szekeres theorem, and that t(n) = O(n 2/3 ) follows from the first moment method. He further conjectured that t(n) = Ω(n 2/3 ). This is not known even for random permutations: the best result is due to Dudek, Grytczuk, Ruciński [4] who showed that a random permutation almost surely contains twins of length Ω(n 2/3 / log 1/3 n).In this short note, we give a first non-trivial lower bound on t(n), and remove the logarithmic factor from the Dudek-Grytczuk-Ruciński result.Theorem 1. For n ≥ 2, every permutation of [n] contains twins of length at least 1 8 n 3/5 . Theorem 2. A random permutation of [n] almost surely contains twins of length at least 1 80 n 2/3 , as n → ∞.In view of Gawron's result, Theorem 2 is sharp up to the constant factor.
1 Полтавський національний технічний університет імені Юрія Кондратюка, Полтава, Україна 2 Полтавський коледж нафти і газу Полтавського національного технічного університету імені Юрія Кондратюка, Полтава, Україна 3 Полтавська державна аграрна академія, Полтава, Україна ЗНАХОДЖЕННЯ ПАРАМЕТРІВ СКОРИГОВАНОЇ ЛІНІЇ ЕКСПОНЕНЦІАЛЬНОЇ АПРОКСИМАЦІЇ ЕКСПЕРИМЕНТАЛЬНИХ ДАНИХ ВИЯВЛЕНИХ ДЕФЕКТІВ ПРИ ОЦІНЮВАННІ КІЛЬКОСТІ ВТОРИННИХ ДЕФЕКТІВ ПРОГРАМНИХ ЗАСОБІВ У статті проведено аналіз місця характеристики надійність програмного забезпечення в структурі моделей якості програмного забезпечення. Визначено, що в ієрархічній структурі більшості моделей якості програмного забезпечення характеристика надійність є першою підхарактеристикою характеристики якість. Виділені п'ять принципів урахування вторинних дефектів програмних засобів. Для урахування вторинних дефектів програмних засобів використовується: теорія динаміки програмних систем, у якій процеси прояву дефектів у програмних засобах розглядаються як результат дії детермінованих потоків дефектів; теорія часових рядів, де виділяються вторинні дефекти із загального потоку дефектів; імітаційне моделювання; модифікація функцій ризику моделей оцінки надійності програмних засобів та функцій, що характеризують параметри цих моделей, внесенням імовірнісних коефіцієнтів; модифікація функцій ризику моделей оцінки надійності програмних засобів шляхом внесення параметра, що визначає число вторинних дефектів, який визначається порівнянням значень полігона частот дефектів з відповідними значеннями функції регресії. Проаналізовано поняття недосконалого відлагодження програмного забезпечення у контексті урахування вторинних дефектів. Обґрунтовано вибір експоненціальної апроксимації полігона частот виявлених дефектів програмних засобів. Наведено приклади моделей оцінки надійності програмних засобів, функції ризику яких містять експоненціальну складову. Розглянуто послідовність знаходження коефіцієнтів функції, одержаної в результаті зміщення лінії експоненціальної апроксимації полігона частот виявлених дефектів програмних засобів. Показано застосування одержаних коефіцієнтів для методики оцінювання числа вторинних дефектів, що ґрунтується на порівнянні даних статистики числа дефектів і даних зміщеної лінії експоненціальної апроксимації полігона частот дефектів. Одержані рівняння скоригованої лінії експоненціальної апроксимації для вибірок малих і великих об'ємів. Одержані формули для обчислення числа вторинних дефектів на часових інтервалах без урахування та із урахуванням поправки Бесселя. К лю чов і с лов а : якість програмного забезпечення, надійність програмного забезпечення, дефект, вторинний дефект, недосконале відлагодження, експоненціальна апроксимація, полігон частот дефектів, модель оцінки надійності програмних засобів, скоригована лінія експоненціальної апроксимації, поправка Бесселя.
scite is a Brooklyn-based organization that helps researchers better discover and understand research articles through Smart Citations–citations that display the context of the citation and describe whether the article provides supporting or contrasting evidence. scite is used by students and researchers from around the world and is funded in part by the National Science Foundation and the National Institute on Drug Abuse of the National Institutes of Health.
customersupport@researchsolutions.com
10624 S. Eastern Ave., Ste. A-614
Henderson, NV 89052, USA
This site is protected by reCAPTCHA and the Google Privacy Policy and Terms of Service apply.
Copyright © 2025 scite LLC. All rights reserved.
Made with 💙 for researchers
Part of the Research Solutions Family.