Experimental validation of high-speed fault-tolerant systems using physical fault injection

Martinez, Robert; Gil, Pablo; Martín, Gonzalo; Perez, C.; Serrano, Juan José

doi:10.1109/dcfts.1999.814299

Cited by 26 publications

(15 citation statements)

References 11 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Unclassified

Order By: Relevance

“…Built-in detection schemes have been used to classify internal erroneous states by their identification messages. Similar detector modules are observed in the evaluation of Fault-Tolerant Architecture with Stable Storage Technology (FASST) [Martínez et al 1999]. Velazco et al [1991] is an example of a hybrid paper, as it is categorized under two neighboring detection leaves.…”

Section: Detectionmentioning

confidence: 78%

See 1 more Smart Citation

Classification Framework for Analysis and Modeling of Physically Induced Reliability Violations

Rodopoulos¹,

Psychou

Sabry

et al. 2015

ACM Comput. Surv.

View full text Add to dashboard Cite

Technology downscaling is expected to amplify a variety of reliability concerns in future digital systems. A good understanding of reliability threats is crucial for the creation of efficient mitigation techniques. This survey performs a systematic classification of the state of the art on the analysis and modeling of such threats, which are caused by physical mechanisms to digital systems. The purpose of this article is to provide a classification tool that can aid with the navigation across the entire landscape of reliability analysis and modeling. A classification framework is constructed in a top-down fashion from complementary categories, each one addressing an approach on reliability analysis and modeling. In comparison to other classifications, the proposed methodology approaches the target research domain in a complete way, without suppressing hybrid works that fall under multiple categories. To substantiate the usability of the classification framework, representative works from the state of the art are mapped to each appropriate category and are briefly analyzed. Thus, research trends and opportunities for novel approaches can be identified.

show abstract

Section: Detectionmentioning

confidence: 78%

“…A representative example of injection to pure HW through contact is the Advanced Fault Injection Tool (AFIT) [Martínez et al 1999]. This tool enforces disruptive signals through probes to nodes of a prototype.…”

Section: Injectionmentioning

confidence: 99%

Classification Framework for Analysis and Modeling of Physically Induced Reliability Violations

Rodopoulos¹,

Psychou

Sabry

et al. 2015

ACM Comput. Surv.

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

“…AFIT was developed at the Universidad Politécnica de Valencia [30] with several updates [24]. The tool is completely external and, it is not necessary to halt or delay the target execution.…”

Section: Fault Injectionmentioning

confidence: 99%

Dependability assessment of by-wire control systems using fault injection

Clavero

Bonastre

Gil

2009

Journal of Systems Architecture

Self Cite

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

“…A few examples include MESSALINE [11], RIFLE [107] or AFIT [111]. The supported fault models in all such tools are transient or permanent stuck-at values in single or multiple pins.…”

Section: Physical Fault Injection Toolsmentioning

confidence: 99%

New Fault Detection, Mitigation and Injection Strategies for Current and Forthcoming Challenges of HW Embedded Designs

García¹

View full text Add to dashboard Cite

"The problem with the world is that the intelligent people are full of doubts, while the stupid ones are full of confidence." Charles Bukowski AgraïmentsVolguera començar agraïnt totes aquelles persones que han fet possible que esta tesi esdevinguera realitat. A totes aquelles persones i que m'han acompanyat durant tot este temps, amb el seu suport tècnic, lingüístic, físic, econòmic o psicològic. Primerament, agrair els meus directors els doctors David de Andrés i Juan CarlosRuiz per la seua dedicació, suport i ànim durant estos anys. Heu sigut de gran ajuda. També al professor Pedro Gil per confiar en mi i donar-me el recolzament econòmic i científic per portar a terme el projecte.Així mateix, també volguera tenir unes paraules per als meus companys del grup de Sistemes Tolerants a Fallades (STF) i en especial als del laboratori: el ja doctor Jesus Friginal, Miquel Martinez, Héctor Marco, Javier Cancio i Antonio Bustos. Haveu sigut els millors, i junts hem passat molt bons moments. També agrair els companys de l'estada a Edinburgh Félix Casado i Ali Ebrahim, i molt especialment als del Barcelona Supercomputing Center Carles, Jaume, Mikel, Javi, Maria, David, Roberto, Milos, Mladen, Suzanna, Quixiao, Leonidas i la resta del grup CAOS per fer-me sentir com a casa.Per descomptat que no només he rebut suport dels companys de recerca. Per això he d'esmentar la meua estimada Sara, per donar-me tot el suport i l'estima possibles i impossibles, i els meus pares i germans, perquè sempre han estat fentme costat i m'han animat a seguir estudiant per comprendre millor el món que ens envolta.Finalment a les persones de la Universitat en general, i del món científic en particular, a la vocació dels quals devem que el sistema continue funcionant.Jaume.v SumariLa rellevància que l'electrònica adquireix en la seguretat dels productes ha crescut inexorablement, puix cada volta més aquesta abasta una major influència en la funcionalitat dels mateixos. Però, per descomptat, aquest fet ve acompanyat d'un constant necessitat de majors prestacions per acomplir els requeriments funcionals, mentre es mantenen els costos i consums en uns nivells reduïts. Donat aquest escenari, la indústria està fent esforços per proveir una tecnologia que complisca amb totes les especificacions de potència, consum i preu, tot a costa d'un increment en la vulnerabilitat a diversos tipus de fallades conegudes, i a la introducció de nous tipus.Per oferir una solució a les noves i creixents fallades als sistemes, els dissenyadors han recorregut a tècniques tradicionalment associades a sistemes crítics per a la seguretat, que en general oferixen resultats sub-òptims. De fet, les arquitectures empotrades modernes oferixen la possibilitat d'optimitzar les propietats de confiabilitat en habilitar la interacció dels nivells de hardware, firmware i software en el procés. Tot i això eixe punt no està resolt encara. Es necessiten avanços a tots els nivells en l'esmentada direcció per poder assolir els objectius d'una tolerància a fallades flexible, robusta, resili...

show abstract

Experimental validation of high-speed fault-tolerant systems using physical fault injection

Cited by 26 publications

References 11 publications

Classification Framework for Analysis and Modeling of Physically Induced Reliability Violations

Classification Framework for Analysis and Modeling of Physically Induced Reliability Violations

Dependability assessment of by-wire control systems using fault injection

New Fault Detection, Mitigation and Injection Strategies for Current and Forthcoming Challenges of HW Embedded Designs

Contact Info

Product

Resources

About